德國Fischer菲希爾測厚儀FMP10 FMP20使用操作手冊和測量方法介紹說明

德國Fischer菲希爾測厚儀FMP30 FMP40使用操作手冊和測量方法介紹說明

儀器簡介

FMP30 FMP40是分體式手持鍍層涂層測厚儀，帶線探頭，便攜式涂層鍍層測厚儀，可以測量磁性鋼鐵基材上非磁性鍍層和鋁銅基材上非導電涂層的厚度。根據(jù)不同測量要求場合，可以更換使用不同規(guī)格功能的探頭進行測量。

7 設(shè)置儀器和探頭

當儀器開機后，會遇到下面的幾種情況：

1.儀器和連接的探頭已經(jīng)握手，并且有可用的應用程式，屏幕上顯示測量界面。在屏幕上方的測量方法標記沒有閃爍，

在這種情況下，可以開始進行測量。

2.儀器沒有建立過應用程式。這種情況下，屏幕會出現(xiàn)“應用程式未打開！請按ZERO 打開！”，這時需要建立應用程式。

（見7.1）

3.儀器已有應用程式但不是當前探頭建立的，屏幕上方的測量方法標記“如”會閃爍，則當前探頭需要重新和主機建立程序。

7.1 建立應用程式

我們儀器為測量所作的設(shè)置和參數(shù)，和測量獲取的數(shù)據(jù)一起被保存在一個文件里，我們定義這個文件叫---應用程式。

在正常測量前，探頭要和主機連接，并且正確的應用程式已經(jīng)被建立好了。

建立應用程式方法

儀器沒有建立過應用程式。這種情況下，屏幕會出現(xiàn)“應用程式未打開！請按ZERO 打開！”，

這時按ZERO 鍵來建立程序。

選擇正確的底材，將探頭在基材上測量幾次。按 2 次ENTER 鍵確認。應用程式建立完畢！

兩用主機，需要對磁感應和電渦流分別進行測量歸零或校準

請用相同材質(zhì)和形狀的加工前工件作底材，形狀或材質(zhì)改變后需要重新歸零/校準！

7.2 指派探頭

FISCHER 公司為滿足不同客戶各種需要，開發(fā)出了不同探頭，我們的主機可以通過接不

同探頭來滿足不同情況下的測量需求，這就需要客戶掌握主機和探頭接觸的方法。

1． 關(guān)閉電源。

2． 接上一個新探頭。

3． 開機

探頭已更換！

按 ZERO 鍵

指派新的探頭

如按 DEL 鍵:開始指派新的探頭。

如按 ENTER 鍵: 不指派新探頭，在測量界面上方的測量標記閃爍。

4． 按 DEL 鍵

應用到全部應用程式

如按 DEL 鍵:所有應用程式都會被指派為新探頭。

如按 ENTER 鍵: 僅指派新探頭給當前應用程式。

7.4 校準

校準是使用標準片和底材對儀器進行調(diào)校

按 CAL 鍵

『S』：偏差

『n』：測量次數(shù)

『Base material(Fe/NF)』:測量底材是鋼鐵等磁性金屬還是非鐵金屬。

在底材上測量 4-5 次。

按 ENTER 鍵

『CAL-rat.1:23.70』: 在此將標準片上的標稱值通過∧、∨鍵輸入主機。

『ENTER: ∧∨』：在測量完標準片后按∧或∨鍵來輸入標準值。

在底材上放置標準片1（箔1）→進行幾次測量

如果做 2 點校準，則標準片由薄到厚

按 ∧,∨ 設(shè)置箔片厚度→ENTER(一直按住數(shù)字會快速跳動)

按2 次ENTER，完成。

8 測量

8.1 選擇應用程式

按 APPL NO 鍵，顯示應用程式選擇界面。

按∧,∨ 選擇需要的應用程式，按ENTER 進入。

『APPL No』：應用程式序號。

『n=』：應用程式內(nèi)的數(shù)據(jù)個數(shù)。

8.2 調(diào)整應用程式

按 MENU 鍵，進入應用程式調(diào)整界面，選擇所需項目。

按 ENTER 鍵，進入菜單。

按 DEL 鍵，不保存設(shè)置退出，或按MENU 鍵，保存當前修改并退出。

9 測量統(tǒng)計功能

詳見光盤內(nèi)說明書

9.1 刪除讀數(shù)

9.1.1 刪除錯誤讀數(shù)

在測量界面，按 DEL 鍵可依次刪除當前數(shù)據(jù)組內(nèi)的每一個讀數(shù)。

9.1.2 刪除數(shù)據(jù)組

只能刪除未關(guān)閉的當前數(shù)據(jù)組。

BLOCK-RES→DEL

9.1.3 刪除全部讀數(shù)

FINAL-RES→DEL→DEL

9.2 連續(xù)測量模式

連續(xù)測量模式下，讀數(shù)將不會自動儲存，但按 ENTER 鍵可以儲存。

開啟/關(guān)閉連續(xù)測量模式

按 鍵可開啟/關(guān)閉連續(xù)測量模式

連續(xù)測量模式開啟后，屏幕上會有標志

型號規(guī)格：

鍍層涂層測厚儀 DELTASCOPE FMP10

鍍層涂層測厚儀 ISOSCOPE FMP10

鍍層涂層測厚儀 DUALSCOPE FMP20

鍍層涂層測厚儀 DELTASCOPE FMP30

鍍層涂層測厚儀 ISOSCOPE FMP30

鍍層涂層測厚儀 DUALSCOPE FMP40

測量探頭 FGAB1.3

測量探頭 FTA3.3H

測量探頭 FD10